如果电子产品在 burst 和 ESD 脉冲测试中发生功能失效,那么被测设备(EUT)必须进行整改。 
                  E1 开发系统被用于快速和精准的确定 EUT 内功能失效的原因,这允许用户直接在PCB板上进行故障定位。 
                    SGZ 21 burst 发生器可以产生测试脉冲,这些脉冲通过导线连接或通过磁场或电场源被耦合到 EUT 中,在测试过程中,可以实时监控工作信号。 
                   
                   *	Burst Generator SGZ 21  
                   *	EMC Sensor S31 with OFP  
                   *	Magnetic field probe MS 02  
                   *		Magnetic field source BS 02  
                   *	Magnetic field source BS 04 DB  
                   *	Magnetic field source BS 05 D  
                   *		Magnetic field source BS 05 DU  
                   *	E-field source ES 00  
                   *	E-field source ES 01  
                   *		E-field source ES 02  
                   *		E-field source ES 05 D  
                   *		E-Field Source ES 08 D  
                   *	Accessories  
                   *	Instruction  
                   *	Case with foamed plastic inset 
                   
                   
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